毛细聚焦涂镀层测厚仪芯片锡点
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产品描述

多导毛细聚焦光谱仪主要利用X射线全反射原理,从X射线管激发出来的X射线束在毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输,利用毛细玻璃管的弯曲来改变X射线的传输方向,从而实现X射线汇聚,同时将X射线的强度增加2~3个数量级。
X射线激发由上往下,采用Mo靶,铜管体的光管,
大窗口的SDD硅漂移探测器
XY轴程控控制,程控移动
 焦距可变
 高倍放大的高清CCD
 开槽式样品台
多级密码设置可给予不同的管理权限
毛细聚焦涂镀层测厚仪芯片锡点
1. 高性能高精度X荧光光谱仪 (XRF)
2. 计算机 通道逐次近似计算法 ADC (模拟数字转换器)
运用基本参数 (F软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用 基础参数计算方法,对样品进行的镀层厚度分析
3. (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度
毛细聚焦涂镀层测厚仪芯片锡点
性能优势:
微区分析:定位平台和毛细管聚焦光学结构,聚焦直径可小至 5μm FWHM. 
测试速度:强度**金属准直1000倍以上的毛细管光路系统搭配核心算法,分析效率翻倍,将大幅度缩减分析时间。 
自动智能:仪器响应式自动开合,AI影像智能寻点一次编程即可实现成百上千个样品点的检测,实现在线检测。
毛细聚焦涂镀层测厚仪芯片锡点
产品配置及技术指标说明
X 射线光管:50KV ,1mA 钼钯
检测系统:FAST SDD 探测器
检测元素范围:Al ( 13) ~ U(92)
应用程序语言:英/中
测量原理:能量色散X射线分析
分辨率:125±5eV
焦斑直径:15μm
 分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光
样品移动距离:可设置
毛细管镀层分析产品特点:
1、多导毛细光学系统和高性能SDD探测器:区别金属准直,多导毛细管可将光束缩小至10 μm,同时得到数千倍的强度增益。可测量**微小样品的同时大程度保证了测试的准确性及稳定性。
2、微米级**小区域:在Elite-X光学系统设计下大大降低检出限,纳米级**薄镀层均可准确、可靠测试
3、广角相机:样品整体形貌一览无余,且测试位置一键直达
4、搭配高分辨微区相机:千倍放大*对焦测试区域,搭配XY微米级移动平台,三维方向对焦聚焦测试点位,误差<±2 μm
5、多重保护系统:V型激光保护,360°探入保护,保护您的样品不受损害,保证仪器安全可靠的运作
6、全自动移动平台:可编程化的操作,针对同一类型样品,编程测试点位,同一类样品自动寻路直接测试
7、人性化的软件:搭配EFP核心算法软件,人机交互,智慧操作
8、可搭配全自动进送样系统
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