膜厚仪原理 苏州实谱信息科技有限公司

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
达克罗是DACROMET译音和缩写，简称达克罗、达克锈、迪克龙。
达克罗表面处理工艺具有很强的耐腐蚀性能，无氢脆性，高耐热性等优点，被广泛应用在*工业、汽车零部件、电力、建筑、海洋工程、家用电器、小五金及标准件、铁路、桥梁、隧道、公路护栏、石油化工、生物工程、器械粉末冶金等多种行业中。
技术难点：
长久以来由于达克罗种类繁多，成分中又有Al等X射线无法检出的轻金属元素，X荧光法一直无法在达克罗测厚应用。
XTU可完全覆盖五金类镀种，包括达克罗检测，不但可以测量出锌铝合金镀层的厚度，还可以分析出锌铝合金的含量。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和*三层Ni的厚度均可测量。

能量色散X荧光光谱分析仪，是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪！
此款产品可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。

随着科技的不断发展和创新，人们对于日常使用物品的外观和实用性要求也越来越高，于是装饰铬的应用领域也是越来越广，不管是汽车门把手，以及各种零配件，家用的卫浴，门把手等等工件上面都可以看到它们的身影。镀铬的工艺种类其实有很多，例如有防护性的装饰铬，耐磨性的镀硬铬，镀乳白铬，镀松孔铬，镀黑铬等等。
技术难点：
装饰类镀铬行业的测试难点主要体现在一下几个方面：
1.样品结构比较复杂，需要检测的区域高低不一。
2.样品表面的装饰Cr镀层一般在0.5um以下，Cr在元素周期表中靠前，其X射线荧光能量较弱，加上在异形件测试中，由于测试高度的变化,Cr荧光能量损耗严重，导致测试结果发生偏差。
3.塑料基材类的镀层，由于汽车行业的需求，镀铜镀镍层一般都很厚，底层的铜层由于Ni层较厚，铜层荧光不能穿透出来被接受，导致铜层无法测试。
4.而较薄的镀铜镍铬产品，在电镀时，塑料基体的正面和背面都有电镀，背面的铜镍的荧光可以轻易穿透基材塑料，从而被仪器接收，造成测试结果不能反映产品的真实镀层情况。
的XTD系列仪器，采用上照式的设计结构，加上自动/手动对焦以及变焦功能，轻松应对各种复杂结构的样品的测试。焦结构的设计加上EFP软件的距离补偿算法，自动补偿因测试距离变长导致的X射线荧光能量的衰减，测试结果更加准确。
那么通用电子测试仪器又是如何区分高中低档？这个标准又是如何确定的？王教授明确指出，针对通用电子测试仪器分档国际上并没有统一或标准的划分方法，需要考虑的因素很多，比如国际或国内、单项指标或综合性能、充分的市场化程度、不同时期等等。在一定的限定条件下，可以根据主要性能指标、参数的不同，给出产品高中低类别划分推荐或建议。中国电子学会电子测量与仪器分会根据国内行业发展的需求，也对国内数字示波器、任意波形发生器、射频信号发生器、频谱分析仪、矢量网络分析仪、台式万用表、直流电源和电子负载这几类通用电子测试测量仪器行要产品进行了大致的高中低档次划分推荐，具体如下：
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