远红外测厚仪 苏州实谱信息科技有限公司
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产品描述

厚度分析0到50微米 分析精度0.005微米 RSD5% 分析层数5层 镀层种类金银铜镍锡铬锌 产品类型上照式 探测器计数盒或半导体 x射线管50到100w 电源220V 准直孔0.05mm和0.1mm
x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
产品优势:
微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)
变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm
的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也测量
远红外测厚仪
随着科技的发展,越来越多的行业开始采用镀金表面处理,用于提升产品的综合质量。电镀金镀层耐蚀性强,导电性好,易于焊接,耐高温,并具有一定的耐磨性(如掺有少量其他元素的硬金),有良好的抗变色能力,同时金合金镀层有多种色调,在银上镀金可防止变色。并且镀层的延展性好,易抛光,故常用作装饰性镀层,如镀饰、钟表零件、艺术品等;也广泛应用于精密仪器仪表、印刷板、集成电路、电子管壳、电接点等要求电参数性能长期稳定的零件电镀,但由于金的价格昂贵,应用受到一定限制。
技术难点:
故此镀金产品对于镀层的管控为的严格,然而由于镀层很薄,能量弱,稳定性差,想要良好的管控成本及产品质量,就需要一台性能很好的光谱仪进行检测分析。
XAU-4CS可满足精密电子类客户对于薄金纳米级厚度的管控,实现检测同一个点的薄金厚度,差稳定在1个纳米。
远红外测厚仪
达克罗是DACROMET译音和缩写,简称达克罗、达克锈、迪克龙。
达克罗表面处理工艺具有很强的耐腐蚀性能,无氢脆性,高耐热性等优点,被广泛应用在*工业、汽车零部件、电力、建筑、海洋工程、家用电器、小五金及标准件、铁路、桥梁、隧道、公路护栏、石油化工、生物工程、器械粉末冶金等多种行业中。
技术难点:
长久以来由于达克罗种类繁多,成分中又有Al等X射线无法检出的轻金属元素,X荧光法一直无法在达克罗测厚应用。
XTU可完全覆盖五金类镀种,包括达克罗检测,不但可以测量出锌铝合金镀层的厚度,还可以分析出锌铝合金的含量。
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对常见的几种镀层作如下的介绍:
镀锌层:镀锌层在大气条件下对钢铁零件为阳性镀层,经各种钝化(彩色、黑色、黄色、军绿色、蓝白色)后,明显地提高了镀层的保护性能并改善了外观。主要用于防止钢铁零件的腐蚀,其镀层价格低廉,耐腐蚀性能优良,应用量大面广。
镀隔层:镀镉层在海洋和高温大气的环境中,对钢铁零件为阳性镀层,镀层比较稳定,耐腐蚀性强,润滑性能好,在航空及电子工业中应用较多。
镀锡层:镀锡层对钢铁件为阴性镀层。因此,只有当镀层无孔隙时才能机械地保护钢铁零件不被腐蚀。它具有较高的化学稳定性,与硫及硫化物几乎不起作用,焊接性能良好,对渗氮有屏蔽作用。
可能很多人对通用电子测试仪器还不太了解,如果按照产品类型划分,通用电子测试测量仪器并没有一个统一的或标准的分类方法,常见的是采用功能形态和频段相结合的划分方法,如仅从功能形态上看,通用电子仪器常见的几类仪器包含:信号分析类仪器(数字示波器、频谱分析仪等),信号产生类仪器(如任意波形发生器、信号源等),电路参数测试类(如矢量网络分析仪,数字多用表等),以及电源与负载等。以常用的数字示波器为例,它是属于信号分析类仪器的一种,可以用来观测、分析和记录各种电信号的变化。通俗来说,数字示波器可以将人肉眼看不见的电信号转换成可视化波形图像,便于人们更直观地去研究各种电现象的变化,并且能实现电压、电流、频率、相位、幅度等基本参数的测量,因此它在通信及信息技术、半导体、汽车制造、电子、物联网、**航空与*、教育科研以及消费类电子等行业具有广泛的应用。
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