多导毛细金属镀层测厚仪晶圆
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产品描述

毛细管聚焦微小样品**薄厚度镀层分析仪产品详细资料介绍,多导毛细聚焦x射线膜厚测试仪性能配置和技术参数请咨询实谱公司提供多导毛细聚焦技术X射线镀层测厚仪的产品应用解决方案,X射线测厚仪被应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,汽车电子领域.EFP算法结合*定位决了大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
性能优势:
微区分析:定位平台和毛细管聚焦光学结构,聚焦直径可小至 5μm FWHM. 
测试速度:强度**金属准直1000倍以上的毛细管光路系统搭配核心算法,分析效率翻倍,将大幅度缩减分析时间。 
自动智能:仪器响应式自动开合,AI影像智能寻点一次编程即可实现成百上千个样品点的检测,实现在线检测。
多导毛细金属镀层测厚仪晶圆
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS 等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu 等]
三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass 等]
四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb 等]
合金镀层应 [如:Sn-Pb/Cu
多导毛细金属镀层测厚仪晶圆
测量精度更高:新开发的特的光学器件和多导毛细管技术可对**微小区域及纳米级薄层高精度测量
**微小样品检测:测试小测量点直径可达10µm
测量效率高:高灵敏度、高解析度X荧光检测系统搭配多导毛细管技术,测量时间更短,能够实现普通机型几倍的检测量
多导毛细金属镀层测厚仪晶圆
多导毛细管技术,轻松应对**小测量点薄涂层和薄涂层的测量分析,在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势主要利用X射线全反射原理,从X射线管激发出来的X射线束在毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输,利用毛细玻璃管的弯曲来改变X射线的传输方向,从而实现X射线汇聚,同时将X射线的强度增加2~3个数量级
毛细管镀层分析产品特点:
1、多导毛细光学系统和高性能SDD探测器:区别金属准直,多导毛细管可将光束缩小至10 μm,同时得到数千倍的强度增益。可测量**微小样品的同时大程度保证了测试的准确性及稳定性。
2、微米级**小区域:在Elite-X光学系统设计下大大降低检出限,纳米级**薄镀层均可准确、可靠测试
3、广角相机:样品整体形貌一览无余,且测试位置一键直达
4、搭配高分辨微区相机:千倍放大*对焦测试区域,搭配XY微米级移动平台,三维方向对焦聚焦测试点位,误差<±2 μm
5、多重保护系统:V型激光保护,360°探入保护,保护您的样品不受损害,保证仪器安全可靠的运作
6、全自动移动平台:可编程化的操作,针对同一类型样品,编程测试点位,同一类样品自动寻路直接测试
7、人性化的软件:搭配EFP核心算法软件,人机交互,智慧操作
8、可搭配全自动进送样系统
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