x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
产品优势:
微小样品检测:小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)
变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm
的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也测量
自动、智能、在线检测
自动:可编程自动位移平台,无人值守、自动检测样品;一次编程便可实现成百上千个样品点的检测
智能:实现自动AI影像智能寻点,编程档案自动匹配测试位置,在面对大批同类型样品检测时,具备明显的优势
在线:根据客户要求可个性化定制产线在线式检测,为工业4.0提供在线检测整体解决方案,提高检测效率,实现全自动智能化工厂
技术参数:
1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)
2. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)
3. 厚度检出限:0.005μm
4. 成分检出限:1ppm
5. 小测量直径0.05mm(小测量面积0.002mm²)
6. 对焦距离:0-90mm
单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用:不同层有相同元素,也可测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,层Ni和*三层Ni的厚度均可测量。
公司宗旨:专注研发,生产,专精服务。
企业精神:诚信,敬业,团结,共赢。
管理理念:沟通共识,人和,包容创新。
经营理念:以人为本,以诚取胜,合作共赢。
社会责任:饮水思源,回馈社会。
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主要经营苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为核心,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。。
单位注册资金未知。
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