红外涂层测厚仪

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
随着科技的发展，越来越多的行业开始采用镀金表面处理，用于提升产品的综合质量。电镀金镀层耐蚀性强，导电性好，易于焊接，耐高温，并具有一定的耐磨性(如掺有少量其他元素的硬金)，有良好的抗变色能力，同时金合金镀层有多种色调，在银上镀金可防止变色。并且镀层的延展性好，易抛光，故常用作装饰性镀层，如镀饰、钟表零件、艺术品等；也广泛应用于精密仪器仪表、印刷板、集成电路、电子管壳、电接点等要求电参数性能长期稳定的零件电镀，但由于金的价格昂贵，应用受到一定限制。
技术难点：
故此镀金产品对于镀层的管控为的严格，然而由于镀层很薄，能量弱，稳定性差，想要良好的管控成本及产品质量，就需要一台性能很好的光谱仪进行检测分析。
XAU-4CS可满足精密电子类客户对于薄金纳米级厚度的管控，实现检测同一个点的薄金厚度，差稳定在1个纳米。

XRF对贵金属检测的特优势：
标准：产品符合国家相关行业标准和技术标准，并通过质监局等相关检验机构检验，并可以提供校准证书；
快速：对样品*前处理，一般只需要20～200秒即可判定金、银、铂、钯等含量，方便对饰品做大量抽样的检测；
：ppm级度，可靠的检测数据；
无损：测试前后，样品无任何形式的变化；
直观：实时谱图，可直观显示贵金属和杂质元素含量；
简易：操作简易，*测试人员，*严格的测试条件；
安全：三重保护装置，确保安全无误；
经济：测试过程基本不需要任何耗材，降低测试与维护费用；
可靠：为化学分析提供测量依据，减少成本，提率。
因贵金属饰品的装饰需求，其成品结构形状复杂多变，测试区域小，市面上很多测厚仪根本无法实现对其检测。
XAU系列X荧光贵金属检测仪是、生产的一款，用于检测贵金属的仪器，本系列仪器采用高分辨率探测器，可准确无误的的分析出黄金，铂金和K金饰品中金、银、铂、钯、铜、锌、镍的含量，测试结果符合国际标准。

XTD-200是一款于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。

单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和*三层Ni的厚度均可测量。
那么通用电子测试仪器又是如何区分高中低档？这个标准又是如何确定的？王教授明确指出，针对通用电子测试仪器分档国际上并没有统一或标准的划分方法，需要考虑的因素很多，比如国际或国内、单项指标或综合性能、充分的市场化程度、不同时期等等。在一定的限定条件下，可以根据主要性能指标、参数的不同，给出产品高中低类别划分推荐或建议。中国电子学会电子测量与仪器分会根据国内行业发展的需求，也对国内数字示波器、任意波形发生器、射频信号发生器、频谱分析仪、矢量网络分析仪、台式万用表、直流电源和电子负载这几类通用电子测试测量仪器行要产品进行了大致的高中低档次划分推荐，具体如下：
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