电线电缆绝缘厚度测试仪

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
随着科技的不断发展和创新，人们对于日常使用物品的外观和实用性要求也越来越高，于是装饰铬的应用领域也是越来越广，不管是汽车门把手，以及各种零配件，家用的卫浴，门把手等等工件上面都可以看到它们的身影。镀铬的工艺种类其实有很多，例如有防护性的装饰铬，耐磨性的镀硬铬，镀乳白铬，镀松孔铬，镀黑铬等等。
技术难点：
装饰类镀铬行业的测试难点主要体现在一下几个方面：
1.样品结构比较复杂，需要检测的区域高低不一。
2.样品表面的装饰Cr镀层一般在0.5um以下，Cr在元素周期表中靠前，其X射线荧光能量较弱，加上在异形件测试中，由于测试高度的变化,Cr荧光能量损耗严重，导致测试结果发生偏差。
3.塑料基材类的镀层，由于汽车行业的需求，镀铜镀镍层一般都很厚，底层的铜层由于Ni层较厚，铜层荧光不能穿透出来被接受，导致铜层无法测试。
4.而较薄的镀铜镍铬产品，在电镀时，塑料基体的正面和背面都有电镀，背面的铜镍的荧光可以轻易穿透基材塑料，从而被仪器接收，造成测试结果不能反映产品的真实镀层情况。
*的XTD系列仪器，采用上照式的设计结构，加上自动/手动对焦以及变焦功能，轻松应对各种复杂结构的样品的测试。焦结构的设计加上EFP软件的距离补偿算法，自动补偿因测试距离变长导致的X射线荧光能量的衰减，测试结果更加准确。

由于化学镍镀层成分中含有磷（P）等X射线无法检出的轻金属元素，加上在不同应用领域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的库伦法，X射线法等测量方法都存在准确度，可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映，或者即使参与了反映，磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大，造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映，由此造成测量的误差。传统的X射线检测时，由于镀层成分中的P比例是在不停变化的，通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况，造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度，同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例，很好的反应出产品的真实情况

XTD-200是一款于检测各种异形件，特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测，在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势；搭载全自动可编程移动平台，无人值守，便可实现多样品的自动检测。

产品优势：
微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
*的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量
可能很多人对通用电子测试仪器还不太了解，如果按照产品类型划分，通用电子测试测量仪器并没有一个统一的或标准的分类方法，常见的是采用功能形态和频段相结合的划分方法，如仅从功能形态上看，通用电子仪器常见的几类仪器包含：信号分析类仪器（数字示波器、频谱分析仪等），信号产生类仪器（如任意波形发生器、信号源等），电路参数测试类（如矢量网络分析仪，数字多用表等），以及电源与负载等。以常用的数字示波器为例，它是属于信号分析类仪器的一种，可以用来观测、分析和记录各种电信号的变化。通俗来说，数字示波器可以将人肉眼看不见的电信号转换成可视化波形图像，便于人们更直观地去研究各种电现象的变化，并且能实现电压、电流、频率、相位、幅度等基本参数的测量，因此它在通信及信息技术、半导体、汽车制造、电子、物联网、**航空与*、教育科研以及消费类电子等行业具有广泛的应用。
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