材料厚度测量仪 苏州实谱信息科技有限公司

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
在实际运用中，五金行业金属表面的镀层选择是根据使用所需的性能来决定的通常包括：防护性镀层、防护-装饰性镀层、功能性镀层3种。
 1、防护性镀层：主要作用是保护基体金属免受腐蚀，不规定对产品的装饰要求，如镀锌、镀镉等。
 2、防护-装饰性镀层：除保护基体金属外，还使零件美观，如镀镍、镀铬、镀铜等。
 3、功能性镀层：除具有一定的保护作用外，主要用于的工作目的，如满足硬度、耐磨性、导电性、电磁性、耐热性等要求，如镀锡、镀银、硬铬等。

能量色散X荧光光谱分析仪，是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪！
此款产品可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。

的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭发出EFP核心算法，结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及**物层的厚度及成分含量。

应用领域：
广泛应用于电镀镀层厚度分析、接插件等电子元器件检测、紧固件行业、五金行业（家用设备及配件等，如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)）、汽车零部件、配饰厚度分析、新能源行业（光伏焊带丝等）、汝铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、电镀液的金属阳离子检测等多种领域。
类似于其他高科技产业，通用电子测试仪器行业面对的技术积累也不是一两个单的技术方向，它以电子技术为基础，是一个融合多学科、多种技术的基础性行业，比如用到的技术就有电子测量技术、射频微波设计技术、数字信号处理技术、微电子技术、计算机技术、软件技术、通信技术等。因此呢，通用电子测试测量仪器属于是技术密集、知识密集型产品，属于科研仪器设备，也是国家十四五发展规划鼓励和支持的产业。其主要的几类产品学科交叉度大，理论相对复杂，开发难度大，需要较长时间积累，特别考验一个国家在技术基础的深度和厚度，这也是为何目前中国通用电子测试测量仪器发展相比发达国家有较大差距的原因。
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