漆膜厚度仪测量原理 苏州实谱信息科技有限公司

x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
仪器配置：
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

由于化学镍镀层成分中含有磷（P）等X射线无法检出的轻金属元素，加上在不同应用领域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的库伦法，X射线法等测量方法都存在准确度，可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映，或者即使参与了反映，磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大，造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映，由此造成测量的误差。传统的X射线检测时，由于镀层成分中的P比例是在不停变化的，通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况，造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度，同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例，很好的反应出产品的真实情况

的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭发出EFP核心算法，结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及**物层的厚度及成分含量。

合金，是由两种或两种以上的金属与金属或非金属，经一定方法所合成的具有金属特性的混合物。一般通过熔合成均匀液体和凝固而得，根据组成元素的数目，可分为二元合金、三元合金和多元合金。两种或两种以上金属通过一定工艺均匀的融合在一起，就是合金，如，铜锌组成黄铜、铜锡组成青铜，铜镍组成白铜，不锈钢全部是含铬镍钛等金属的合金。
技术难点：
但由于合金中所含有的碳C，硅Si，锰Mn，磷P，铍P，硼B，镁Mg等元素能量较低，X射线无法检测到这些元素。
而XAU这款仪器，采用微聚焦加强型X射线管，搭配SDD硅漂移大面积25mm²探测器，可对地矿、合金及贵金属等物质中的Al（13）-U（92）的80种元素成分分析，检出限高达1ppm。
公司宗旨：专注研发，生产，专精服务。
企业精神：诚信，敬业，团结，共赢。
管理理念：沟通共识，人和，包容创新。
经营理念：以人为本，以诚取胜，合作共赢。
社会责任：饮水思源，回馈社会。
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欢迎来到苏州实谱仪器有限公司网站， 具体地址是江苏省苏州苏州市干将西路399号205，联系人是孙经理。 主要经营苏州实谱信息科技有限公司是一家以X荧光光谱仪为核心,集多种检测仪器的研发、生产、销售于一体的高科技企业。。 单位注册资金未知。 我公司在机械产品领域倾注了无限的热忱和激情，公司一直以客户为中心、以客户价值为目标的理念、以品质、服务来赢得市场，衷心希望能与社会各界合作，共创成功，共创辉煌，携手共创美好明天！