x荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分和浓度测定。
      x荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自特征的X射线，不同的元素有不同的特征X射线、探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号变为模拟信号，经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理，计算机的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的各类及各元素的镀层厚度。
应用领域：
应用于镀银、镀镍、镀金、镀锌等，广泛应用于电子电器、高压开关、电网、汽车配件五金工具、PCB板、半导体封装、电子连接器等。

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