X光镀层测厚仪是采用磁性和涡流两种方法进行测厚的

      X光镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度，以及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量的检测仪器。仪器广泛运用于工业生产测厚中，包含钢板厚度、卷皮带厚度等，当然在实验室精细测量中也有运用，包含航空航天、科研开发等范畴。

      X光镀层测厚仪作业原理：

测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

1、磁性法：当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度；

2、涡流法：利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。